ArticleOriginal scientific text

Title

Analiza niepewności pomiarów położenia realizowanych metodą wizyjną dla zastosowań elektrotrakcyjnych

Authors 1, 1

Affiliations

  1. Politechnika Gdańska, Wydział Elektrotechniki i Automatyki

Abstract

Niepewność pomiarowa stanowi kluczowe zagadnienie podczas wykonywania pomiarów. Jest to zwłaszcza istotne w przypadku pomiarów realizowanych na potrzeby prac naukowych i badawczych. Wyznaczanie niepewności pomiaru podczas wykonywania badań z użyciem nowoczesnego sprzętu pomiarowego jest zagadnieniem szczególnie złożonym i często ze względu na tę złożoność pomijanym. W artykule przedstawiono analizę niepewności pomiaru położenia realizowanego przy użyciu metody wizyjnej z wykorzystaniem cyfrowej kamery 2D. Przedmiotem pomiaru jest obiekt fizyczny o wymiarach charakterystycznych w zastosowaniach elektrotrakcyjnych. Wykonana analiza pokazuje jaka precyzja może być uzyskiwana w trakcie pomiarów laboratoryjnych wykonywanych metoda optyczną oraz prezentuje i przedstawia jakie czynniki są znaczące z punktu widzenia uzyskania tej precyzji.

Keywords

trakcja elektryczna, pomiary wizyjne, analiza niepewności pomiarowych

Bibliography

  1. 1. Judek S., Jarzebowicz L.: Wavelet transform-based approach to defect identification in railway carbon contact strips, Elektr. ir Elektrotechnika, vol. 21, no. 6, Dec. 2015, pp 29-33.
  2. 2. Jarzębowicz L., Judek S.: Monitoring i diagnostyka nakładek stykowych kolejowych odbieraków prądu z wykorzystaniem systemu wizyjnego 3D, Przegląd Elektrotechniczny, Nr 8/2013, s. 308-312.
  3. 3. Skibicki J.: The new version of contact-less method for localisation of catenary contact wire – theoretical assumption, Przegląd Elektrotechniczny, Nr 7/2013, s. 100-104.
  4. 4. Praca zbiorowa: Wyrażanie niepewności pomiaru – przewodnik, Główny Urząd Miar, Warszawa 1999.
  5. 5. Skubis T.: Opracowanie wyników pomiarów. Przykłady. Wyd. Pol. Śl., Gliwice 2003.
  6. 6. Shakarji C.M.: Least-squares fitting algorithms of the NIST algorithm testing system, J Res Natl Inst Stand Technol, 103 (1998), pp. 633–641.